高性能实验室和 QA 系统
MarSurf CM expert 是强大的可配置型共焦显微镜,用于表面的三维测量和分析 - 无接触,不受材料影响,而且速度快。
高性能实验室和 QA 系统
MarSurf CM expert 有坚固的结构且对环境波动不敏感,所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。
额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行程范围和能够实现自动化,使其有优异的易用性。
典型测量任务
粗糙度测量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)
轮廓和形状 (2D, 3D)
孔,颗粒分析
缺陷检测
德国Mahr马尔 测量站 MarSurf VD 280