无论是 PIN 探测器、硅漂移探测器、固定样品支架还是手动操作的 XY 工作台:FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 应用广泛,可满足您的各种需求。它可以对贵金属和合金进行精确的材料分析、涂镀层厚度测量或痕量分析。配备 50 mm² 硅漂移探测器的仪器型号还适用于 RoHS 测量。
适用于贸易、工业和实验室应用
只需几步即可完成样品放置和测量准备工作
极其快速简单
可靠的有害物质检测
在标准偏差不变的情况下,测量时间更短**。
*FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 不配备
**与 DPP 相比