产品描述
日本 Photonic Lattice 光子晶格 CRYSTA PI-5WP(水晶派 - 5WP)二维双折射评估系统,搭载自研光子晶体偏振传感器,848×680(57 万像素),相比 WPA-200 分辨率提升 5 倍。采用 523nm/543nm/575nm 三波长测量方案,解决相位差缠绕问题,量程可达 0~3500nm,选配高相位差模块最高至 10000nm。整机无旋转偏振片、无运动光学部件,快照式成像,单次全视场测量仅需数秒。配套 WPA-View 专业分析软件,支持相位差云图、线剖面、ROI 区域统计、CSV 数据导出,可选应力换算模块、电动位移台、远程控制接口,支持 API 通讯。原装进口,用于光学透镜、树脂注塑件、光学薄膜等透明元件内部应力与双折射分布高精度检测。
产品规格
型号:CRYSTA PI-5WP(水晶派 - 5WP)
品牌:Photonic-Lattice(光子晶格,日本)
机型说明:CRYSTA PI 系列台式高精度二维双折射测量设备
测量波长:523nm、543nm、575nm 三波长
相位差测量范围:0~3500nm;选配高相位差选件最高可达 10000nm
传感器像素:848 × 680(约 57 万像素)
相位差重复精度:σ<0.1nm;光轴角度 σ<0.1°(相位差>10nm)
测量时间:数秒完成全视场快照成像
输出参数:相位差 (nm)、光轴角度 (°);应力 MPa(选配应力换算模块)
配套软件:WPA-View,云图、剖面分析、ROI 统计、CSV 导出、远程控制 API 接口
可选配件:变焦镜头、遮光罩、电动位移台、应力换算模块
供电:AC100~240V(50/60Hz)
信号接口:GigE
产品总结
CRYSTA PI-5WP(水晶派 - 5WP)是日本光子晶格 CRYSTA PI 系列台式二维双折射评估系统,分辨率较 WPA-200 提升 5 倍,三波长算法消除相位缠绕,宽量程覆盖中高相位差样品。快照式一次性获取全视野相位差与光轴二维分布,设备无运动部件,稳定性强。搭配 WPA-View 软件实现可视化云图分析,支持远程控制,适合光学注塑件、厚透镜、光学板材、高分子材料的成型应力检测与研发工艺评估。
应用场景
光学镜头行业:塑料非球面透镜、厚树脂镜片脱模应力、翘曲成因检测
光学元件:棱镜、光学窗口板、透明树脂零部件双折射分布评估
光学薄膜:TAC、COP、PET 等光学膜相位差与分子取向检测
高分子材料:注塑成型件、透明板材内部应力集中区域定位
材料研发:高分子改性、流变实验,观测材料内部应力演化
品质管控:来料检验、成品抽检,分析应力不均造成的光学缺陷