产品描述

日本 Photonic Lattice（光子晶格）KAMAKIRI MEM-AS 属于 KAMAKIRI 系列面扫式动态离线 / 在线两用双折射测量系统，采用面阵快照成像方式，捕捉材料拉伸、挤出过程中动态变化的相位差与光轴角度分布。搭载自研光子晶体偏振传感技术，无旋转偏振部件，可将动态变化过程保存为 AVI 动态影像，直观展示分子取向随外力演变过程，弥补传统单点测量无法观测瞬态变化的短板。可安装于各类材料试验机、薄膜拉伸设备，用于模头出口、拉伸夹具周边等区域动态观测；硬件后期可升级改造为 STS-LS 产线全幅机型。配套 KAMAKIRI 离线基础软件，支持相位差云图、线剖面、ROI 统计、CSV 数据导出，原装进口，适合高分子薄膜动态成型过程机理研究与工艺评估。

产品规格

• 型号：KAMAKIRI MEM-AS

• 品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）

• 机型说明：KAMAKIRI 系列面扫动态测量机型，离线 / 在线两用，可后期升级至 STS-LS

• 测量波长：543nm（可选）

• 相位差测量范围：0~260nm

• 光轴角度范围：0~180°

• 相位差重复精度：＜±1nm（参考相位板标定条件）

• 光轴角度重复精度：＜±1°（相位差≥10nm 条件下）

• 测量方式：面阵快照成像，连续采集动态过程，可输出 AVI 动态影像

• 适配设备：薄膜拉伸机、挤出模头、各类材料力学试验机

• 输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)、二维分布云图、动态视频文件

• 配套软件：KAMAKIRI 离线基础软件，云图、剖面、ROI 统计、CSV 导出

• 安装形式：模块化，可搭载在多种测试设备上

• 供电：AC100～240V（50/60Hz）

• 信号接口：GigE，支持上位机通讯

产品总结

KAMAKIRI MEM-AS 是日本光子晶格 KAMAKIRI 系列动态面扫双折射测量系统，采用面阵快照成像，专门捕捉薄膜拉伸、挤出成型时瞬态动态相位差与取向变化，可以保存动态影像，直观观察成型过程中材料内部结构演变。设备可安装在拉伸试验机、挤出模头等位置，兼顾离线实验与产线局部在线观测，硬件具备升级潜力，后期可改造为 STS-LS 全幅宽产线机型，广泛用于光学薄膜工艺机理研发与成型缺陷溯源。

应用场景

1. 薄膜挤出工艺：模头出口处薄膜相位差波动、分子取向不均动态观测

2. 双向拉伸实验：拉伸机夹具周边材料形变、取向演变过程评估

3. 高分子材料：拉伸过程中薄膜应力分布动态变化研究

4. 光学膜研发：TAC、COP、PET 等光学膜拉伸工艺参数调试

5. 缺陷机理分析：周期性条纹、局部光学不均产生过程可视化研究

6. 材料实验室：动态力学 + 偏振光学同步表征，成型机理研究