产品描述

日本 Photonic Lattice（光子晶格）KAMAKIRI MEM-LS 属于 KAMAKIRI 系列单相机局部采样式在线双折射检测系统，采用自研光子晶体偏振传感技术，无旋转偏振部件，结构精简，适合试产线、小批量产线局部点位监测。单相机可选取薄膜幅宽内指定区域做连续线扫检测，替代传统人工取样抽检，实时采集相位差与光轴角度二维分布云图，现场实时监控，异常可快速报警，及时停机减少不良品产出。支持根据产线现场工况定制安装工装，后期可升级改造为全幅宽 STS-LS 机型。配套 KAMAKIRI 专用软件，支持剖面分析、ROI 统计、CSV 数据导出、PLC 上位机通讯，原装进口，是光学薄膜试产、小批量量产经济实用的在线检测方案。

产品规格

• 型号：KAMAKIRI MEM-LS

• 品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）

• 机型说明：KAMAKIRI 系列单相机局部采样在线机型，试产线 / 小批量产线适用，可升级至 STS-LS

• 测量波长：543nm（波长可定制）

• 相位差测量范围：0~260nm

• 光轴角度范围：0~180°

• 相位差重复精度：＜±1nm（参考相位板标定条件）

• 光轴角度重复精度：＜±1°（相位差≥10nm 条件下）

• 单相机最大扫描幅宽：约 600mm（局部区域检测，非整幅全覆盖）

• 测量方式：线扫描连续成像，定点区域连续监测

• 输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)、二维分布云图、良否判定结果

• 配套软件：KAMAKIRI 在线检测软件，实时画面监控、缺陷报警、批次归档、CSV 导出、PLC 通讯

• 安装形式：机架式，安装工装可定制

• 供电：AC100～240V（50/60Hz）

• 信号接口：GigE，支持对接产线 PLC

产品总结

KAMAKIRI MEM-LS 是日本光子晶格 KAMAKIRI 系列经济型局部在线薄膜双折射测量系统，单相机设计，用于卷材薄膜选定区域连续监测，替代人工抽检，缩短取样检测周期，快速识别局部光学不均缺陷。设备结构简单、部署成本更低，适合研发试产线、小批量生产线；后期产能提升后可直接升级改造为 STS-LS 全幅宽机型。实时输出相位差云图并支持异常报警，助力工艺调试、良率提升。

应用场景

1. 光学薄膜行业：TAC、COP、PET、PVA 相位差膜试产线局部点位监测

2. 显示材料：LCD/OLED 光学膜片拉伸工艺局部取向均匀性在线评估

3. 功能膜材：光学保护膜、涂布膜、PI 薄膜局部相位差与成型应力检测

4. 薄膜工艺研发：试产线、中试产线工艺调试，定位条纹、局部不均缺陷

5. 产线品质管控：定点区域连续在线监测、缺陷预警、批次数据追溯

6. 项目验证：量产前小线验证，前期投入低，后续可升级成全幅检测