产品描述

日本 Photonic Lattice（光子晶格）KAMAKIRI STS-LS 为 KAMAKIRI 系列量产线全幅宽线扫式在线双折射检测系统，采用光子晶体偏振传感技术，龙门框架结构，支持多相机拼接，实现卷材薄膜整幅宽、全长连续检测。543nm 波长，可实时采集相位差与光轴角度二维分布云图，画面实时直播展示，自带 OK/NG 自动判定与异常报警，快速识别膜面周期性横纹、斜向条纹、局部光学不均等缺陷。支持对接产线裁切信号，按生产批次自动存储数据，实现不良位置溯源。无需取样离线检测，直接集成在薄膜拉伸、流延、涂布产线上，兼容最高 30m/min 走膜速度。配套 KAMAKIRI 专用软件，支持剖面分析、ROI 统计、CSV 导出、PLC 上位机通讯，原装进口，用于光学薄膜量产全卷品质监控与工艺调试。

产品规格

• 型号：KAMAKIRI STS-LS

• 品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）

• 机型说明：KAMAKIRI 系列量产产线全幅宽在线检测机型，支持多相机拼接

• 测量波长：543nm（可定制）

• 相位差测量范围：0~260nm

• 光轴角度范围：0~180°

• 相位差重复精度：＜±1nm（参考相位板标定条件）

• 光轴角度重复精度：＜±1°（相位差≥10nm 条件下）

• 单相机最大扫描幅宽：约 600mm，多相机拼接可拓展更宽幅面

• 单相机测量点数：424 点

• 卷材输送速度：最高 30m/min（可定制更高速度）

• 输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)、二维分布云图、良否判定结果

• 配套软件：KAMAKIRI 在线检测软件，实时监控、缺陷报警、批次数据归档、CSV 导出、PLC 通讯

• 安装形式：龙门机架式，集成于卷材生产线

• 供电：AC100～240V（50/60Hz）

• 信号接口：GigE，支持对接产线 PLC

产品总结

KAMAKIRI STS-LS 是日本光子晶格 KAMAKIRI 系列量产产线专用全幅宽在线双折射测量系统，龙门式框架，支持多相机拼接，实现薄膜全幅宽连续线扫检测。实时生成相位差与光轴分布云图，在线识别各类光学不均匀缺陷，自动报警并保存整卷数据，可直接用于产线工艺优化与成品全检。最高支持 30m/min 高速走料，适合大宽幅光学膜量产管控，解决传统单点取样检测漏检问题。

应用场景

1. 光学薄膜行业：TAC、COP、COC、PC、PET、PVA 相位差膜、偏光基材全幅检测

2. 显示材料：LCD/OLED 光学膜片，拉伸工艺分子取向均匀性在线监测

3. 功能膜材：光学保护膜、涂布膜、PI 薄膜相位差与成型应力检测

4. 薄膜工艺研发：拉伸、流延、涂布工序工艺调试，定位周期性条纹缺陷

5. 产线品质管控：卷材全卷连续质检、缺陷定位、批次数据追溯、裁切区域判定

6. 新材料验证：新型光学膜量产试线评估，优化工艺减少显示色偏、对比度不良