产品描述

日本 Photonic Lattice 光子晶格 Sci-Ral 多功能光谱偏振测量系统，专为光学材料全偏振光谱表征开发，可光谱式测量光偏振态、面内双折射 R0、面外双折射 Rth 以及全穆勒矩阵。搭载分光模块与光子晶体偏振传感技术，400~800nm 宽光谱，波长分辨率 2nm，无需多台设备组合，一套系统同时获取斯托克斯参数、延迟量、快慢轴方位角。配备手动倾斜旋转样品台，通过正入射 + 斜入射数据计算三维折射率，得到显示膜材核心参数 R0 与 Rth。逐波长采集完整 4×4 穆勒矩阵 16 个参数，可解耦分离双折射、二向色性、旋光性、退偏等偏振特性，适用于相位差膜、偏振元件、晶体等样品。配套 Sci-Ral 专业分析软件，光谱曲线可视化、穆勒矩阵图谱展示、CSV 数据导出，原装进口，用于显示光学膜研发、偏振光学元件检测与材料偏振机理研究株式会社フ...。

产品规格

• 型号：Sci-Ral（光谱偏振仪）

• 品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）

• 机型说明：多功能光谱偏振测量系统，可测偏振态、R0/Rth、全穆勒矩阵

• 光谱范围：400～800nm

• 波长分辨率：2nm

• 测量项目：斯托克斯矢量、偏振度、椭圆率、方位角；面内 R0、面外 Rth；全 4×4 穆勒矩阵

• 延迟量量程：标准 0~λ/2，扩展可至 100000nm

• 测量时长：单组光谱 6～30 秒

• 偏振测量精度：＜2%@532nm

• 斯托克斯重复精度：0.01@532nm

• 样品台：手动倾斜 + 旋转台，用于斜入射 Rth 测试

• 输出参数：R0、Rth、三维折射率 nx/ny/nz、穆勒矩阵 16 元素、光谱偏振曲线

• 配套软件：Sci-Ral 分析软件，光谱绘图、穆勒矩阵分解、CSV 导出

• 供电：AC100～240V（50/60Hz）

• 信号接口：GigE

产品总结

Sci-Ral 是光子晶格科研级多功能光谱偏振系统，一站式完成光谱偏振态、R0/Rth、全穆勒矩阵测试。不同于单波长双折射设备，可获取全波段偏振色散特性，穆勒矩阵分解能力可区分双折射、吸收二向色、旋光、退偏等复合偏振效应，是 LCD/OLED 相位差膜、AR/VR 偏振组件、光学晶体材料研发的核心表征设备，适合实验室材料配方开发、来料光学特性验证、偏振元件全参数标定株式会社フ...。

应用场景

1. 显示光学膜：TAC、COP、PET 相位差膜，光谱 R0/Rth 色散特性检测

2. AR/VR 光学元件：QWP 波片、偏振膜片全波段穆勒矩阵表征

3. 光学晶体：各向异性晶体、双折射晶体光谱偏振参数测量

4. 偏振器件：偏振片、旋光元件、退偏材料偏振特性评估

5. 新材料研发：高分子取向膜、纳米结构薄膜偏振色散研究

6. 光学仿真对标：获取全波段穆勒矩阵数据，用于光学系统仿真建模