产品描述

日本 Photonic Lattice（光子晶格）WPA-200 二维双折射评估系统，为 WPA 系列经典基础款，采用自研光子晶体偏振传感技术，搭载三波长测量（523nm/543nm/575nm），解决传统单波长相位差缠绕问题，实现全视场二维面分布成像检测。整机无旋转偏振片结构，稳定性高、维护简单，单次全视场测量仅需 2~5 秒。配套 WPA-View 专业分析软件，支持相位差云图、线剖面、ROI 区域统计、CSV 数据导出，选配模块可直接换算残余应力 MPa，支持 API 远程对接，适合实验室研发与样品质检。原装进口精密光学测量仪器，广泛用于光学薄膜、透明树脂、玻璃基板等材料的双折射与内应力检测。

产品规格

• 型号：WPA-200

• 品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）

• 机型说明：WPA 系列标准基础台式机型

• 测量波长：523nm、543nm、575nm 三波长

• 相位差测量范围：0~3500nm；选配高相位差选件最高可达 10000nm

• 传感器像素：384 × 288（约 11 万像素）

• 标准镜头视场：27×36mm ~ 100×133mm

• 选配变焦镜头视场：3.0×4.0mm ~（微区观测）

• 重复精度：相位差 σ＜0.1nm；光轴角度 σ＜0.1°（相位差＞10nm）

• 测量时间：2~5s / 全视场

• 输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配数据处理模块）

• 配套软件：WPA-View，支持云图、剖面分析、ROI 统计、CSV 导出、远程 API

• 整机尺寸（宽 × 深 × 高）：270 × 337 × 最大 631 mm

• 整机重量：约 13kg

• 供电：AC100～240V（50/60Hz），最大 5.0A

• 信号接口：GigE

产品总结

WPA-200 是日本光子晶格经典二维双折射 / 残余应力成像测量系统，三波长检测方案解决大相位差解缠难题，全视场一次成像，无需旋转光学部件，设备稳定。机身轻量化，适合常规尺寸样品检测，配套专业分析软件可输出相位差分布云图，选配应力换算模块，性价比高，广泛用于透明光学材料研发与小样质检。

应用场景

1. 光学薄膜行业：偏光膜、相位差膜、光学 PET 薄膜相位差均匀性检测

2. 玻璃材料：盖板玻璃、光学镜片、钢化玻璃、蓝宝石基板残余应力检测

3. 树脂 / 高分子材料：透明注塑件、树脂透镜、光学胶的双折射、成型应力评估

4. 半导体与光学元件：水晶、光学晶体、透明基板的内部应力缺陷检测

5. 科研实验室：材料光学特性研究、形变应力观测、热处理前后应力对比分析

6. 汽车光学件：车载透明面板、仪表透光件应力质检