日本 Photonic Lattice（光子晶格）WPA-200-MT 二维双折射评估系统，为 WPA-200 系列产线嵌入式分体式机型，测量头部与光源分离，可集成到自动化产线工位。搭载自研光子晶体偏振传感技术，采用 523nm/543nm/575nm 三波长测量方案，解决传统单波长相位差缠绕问题，实现小尺寸透明工件全视场二维面分布成像检测。整机无旋转偏振片结构，稳定性高、维护简单，单次全视场测量仅需 2~5 秒。配套 WPA-View 专业分析软件，自带自动判定功能，支持相位差云图、线剖面、ROI 区域统计、CSV 数据导出，选配模块可直接换算残余应力 MPa，支持 API 远程对接，适配自动化产线在线质检。原装进口精密光学测量仪器，适合手机镜头、小型光学透镜等小件光学元件双折射与内应力检测。
型号：WPA-200-MT
品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）
机型说明：WPA-200 系列分体式在线测量款，测量头可嵌入产线
测量波长：523nm、543nm、575nm 三波长
相位差测量范围：0~3500nm；选配高相位差选件最高可达 10000nm
传感器像素：384 × 288（约 11 万像素）
标准镜头视场：33×44mm
选配变焦镜头视场：4.1×5.5mm ~11.5×15.3mm（镜头选型出厂固定，不可后期更换）
重复精度：相位差 σ＜0.1nm；光轴角度 σ＜0.1°（相位差＞10nm）
测量时间：2~5s / 全视场
输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配数据处理模块）
特色功能：分体式结构，测量头可集成自动化产线；软件自带自动良品判定
配套软件：WPA-View，支持云图、剖面分析、ROI 统计、CSV 导出、远程 API
整机尺寸：分体式，测量头独立安装
整机重量：测量头轻量化设计，便于产线安装
供电：AC100～240V（50/60Hz），最大 5.0A
信号接口：GigE
WPA-200-MT 是日本光子晶格 WPA-200 系列分体在线式二维双折射 / 残余应力成像测量系统，核心光学性能与 WPA-200 一致，分体式设计，测量探头可集成到自动化产线，专为小型光学元件在线质检开发。采用三波长检测方案解决大相位差解缠难题，一次成像获取样品全域相位差分布，无旋转光学部件，运行稳定。配套软件支持自动良品判定，可对接上位机，适合手机镜头、微型光学透镜等小件产品大批量产线检测。
光学镜头行业：手机塑料镜头、车载小透镜、VR 微型镜片成型应力与双折射在线检测
光学元件：小型棱镜、微型光学透明件的内应力品质筛查
树脂 / 高分子材料：小型透明注塑件、光学胶小件成型应力评估
玻璃材料：微型光学玻璃镜片、小规格盖板残余应力检测
自动化产线：光学元件流水线在线质检、自动良否判定、数据记录追溯
科研实验室：小尺寸光学试样快速批量检测
日本Photonic-Lattice光子晶格 显微二维双折射评估系统 WPA-micro
RELATED PRODUCTS
