产品描述

日本 Photonic Lattice（光子晶格）PA-300-NIR 近红外二维双折射评估系统，为 PA-300 系列近红外专用台式机型，采用 850nm 单近红外波长，适配可见光不透明、近红外可透射的低相位差材料检测。搭载 500 万像素高分辨率光子晶体偏振传感器，整机无旋转偏振片结构，稳定性高、维护简便，单次全视场快照测量约 3~10 秒。配套 PA-View 专业分析软件，支持相位差云图、线剖面、ROI 区域统计、CSV 数据导出，选配模块可直接换算残余应力 MPa，支持 API 远程对接。原装进口精密光学测量仪器，适用于 LiDAR、硫系玻璃、深色红外树脂元件的微弱双折射与残余应力检测。

产品规格

• 型号：PA-300-NIR

• 品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）

• 机型说明：PA-300 系列近红外波段专用台式机型，低相位差检测

• 测量波长：850nm（近红外单波长）

• 相位差测量范围：0~213nm

• 传感器像素：2056 × 2464（约 500 万像素）

• 标准镜头视场：30×36mm ~100×133mm

• 选配变焦镜头视场：5.5×6.6mm ~25×30mm

• 最小分辨率：0.001nm

• 重复精度：相位差 σ＜1.0nm

• 测量时间：3~10s / 全视场

• 输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配数据处理模块）

• 配套软件：PA-View，支持云图、剖面分析、ROI 统计、CSV 导出、远程 API

• 整机尺寸（宽 × 深 × 高）：270 × 337 × 最大 631 mm

• 整机重量：约 12kg

• 供电：AC100～240V（50/60Hz），最大 6.0A

• 信号接口：GigE

产品总结

PA-300-NIR 是日本光子晶格 PA-300 系列近红外二维双折射 / 残余应力成像测量系统，搭载 850nm 近红外光源与 500 万像素偏振传感器，专为红外透光、可见光不透的低相位差样品开发。快照式一次性成像，无运动光学部件，设备稳定。配套 PA-View 软件输出高精度相位差云图，选配应力换算模块，适合车载激光雷达、硫系玻璃、红外树脂镜片等红外光学元件微弱应力质检与材料研发。

应用场景

1. 车载 LiDAR 行业：激光雷达红外透镜、保护盖板、硫系玻璃元件低双折射检测

2. 红外光学元件：硫系镜片、红外窗口、深色红外树脂成型应力评估

3. 人脸识别光学：红外传感镜头、黑色透光树脂元件微小内应力检测

4. 特种玻璃：近红外透光特种玻璃、红外基板低残余应力检测

5. 高分子材料：深色红外透明注塑件、红外光学胶微弱双折射评估

6. 科研实验室：红外光学材料、硫系晶体低位相差与应力分布研究