产品描述

日本 Photonic Lattice（光子晶格）WPA-200-NIR 近红外二维双折射评估系统，属于 WPA-200 系列近红外专用机型，采用 810nm/850nm/870nm 近红外三波长测量方案，专门检测可见光不透明、但可透过近红外光的材料。搭载自研光子晶体偏振传感技术，无需旋转偏振片，稳定性高、维护简单，单次全视场测量仅需 2~5 秒。配套 WPA-View 专业分析软件，支持相位差云图、线剖面、ROI 区域统计、CSV 数据导出，选配模块可直接换算残余应力 MPa，支持 API 远程对接。原装进口精密光学测量仪器，广泛用于 LiDAR、硫系玻璃、深色红外树脂元件的双折射与内应力检测。

产品规格

• 型号：WPA-200-NIR

• 品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）

• 机型说明：WPA-200 系列近红外波段专用台式机型

• 测量波长：810nm、850nm、870nm 近红外三波长

• 相位差测量范围：0~3500nm；选配高相位差选件最高可达 10000nm

• 传感器像素：384 × 288（约 11 万像素）

• 标准镜头视场：3×4mm ~100×133mm

• 重复精度：相位差 σ＜0.1nm；光轴角度 σ＜0.1°（相位差＞10nm）

• 测量时间：2~5s / 全视场

• 输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配数据处理模块）

• 配套软件：WPA-View，支持云图、剖面分析、ROI 统计、CSV 导出、远程 API

• 整机尺寸（宽 × 深 × 高）：270 × 337 × 最大 631 mm

• 整机重量：约 13kg

• 供电：AC100～240V（50/60Hz），最大 5.0A

• 信号接口：GigE

产品总结

WPA-200-NIR 是日本光子晶格 WPA-200 系列近红外二维双折射 / 残余应力成像测量系统，采用近红外三波长方案，解决可见光不透光红外光学元件的相位差解缠问题。全视场快照成像，无旋转光学部件，设备稳定可靠，配套 WPA-View 软件输出相位差分布云图，选配应力换算模块。专为车载激光雷达、红外光学镜片、硫系元件研发质检，是红外光学材料应力检测专用仪器。

应用场景

1. 车载 LiDAR 行业：激光雷达红外透镜、保护盖板、硫系玻璃元件双折射检测

2. 红外光学元件：硫系镜片、红外窗口、深色红外树脂成型应力评估

3. 人脸识别光学：红外传感镜头、黑色透光树脂元件内部应力检测

4. 特种玻璃：近红外透光特种玻璃、红外基板残余应力检测

5. 高分子材料：深色红外透明注塑件、红外光学胶的双折射评估

6. 科研实验室：红外光学材料、硫系晶体光学特性与应力研究