产品描述

日本 Photonic Lattice（光子晶格）PA-micro-S 显微二维双折射评估机头，属于 PA-micro 系列纯测量机头版本，不含显微镜主机，可搭载客户自有奥林巴斯 / 尼康显微镜使用。搭载自研光子晶体偏振传感技术，500 万像素高分辨率传感器，采用 520nm 单波长，专为微区低相位差样品高精度检测设计。整机无旋转偏振片结构，稳定性高，快照式成像，单次显微全视场测量约 3 秒。配套 PA-View 专业分析软件，支持相位差云图、线剖面、ROI 区域统计、CSV 数据导出，选配模块可直接换算残余应力 MPa，支持 API 远程对接。原装进口精密光学测量单元，适配客户现有显微镜改造升级，用于微小元件微区低双折射、局部残余应力检测。

产品规格

• 型号：PA-micro-S

• 品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）

• 机型说明：显微测量机头（不含显微镜本体，可外接兼容 Olympus/Nikon 显微镜）

• 测量波长：520nm（单波长，低相位差专用）

• 相位差测量范围：0~130nm

• 传感器像素：2056 × 2464（约 500 万像素）

• 可选物镜倍率：×2 / ×5 / ×10 / ×20 / ×50

• 视野范围：142×170μm ~ 3.5×4.2mm（随物镜切换）

• 最小分辨率：0.001nm

• 重复精度：相位差 σ＜0.1nm

• 测量时间：约 3s / 显微全视场

• 输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配数据处理模块）

• 配套软件：PA-View，支持云图、剖面分析、ROI 统计、CSV 导出、远程 API

• 整机尺寸（宽 × 深 × 高）：270 × 500 × 610 mm

• 整机重量：约 18kg

• 供电：AC100～240V（50/60Hz）

• 信号接口：GigE

产品总结

PA-micro-S 是日本光子晶格 PA 系列显微低相位差测量机头，不含显微镜主机，可直接加装在客户现有奥林巴斯、尼康显微镜上改造。搭载 500 万像素高分辨率偏振传感器，专注微米尺度微小区域低位相差检测，快照式一次成像获取相位差与光轴角度二维分布。设备无旋转光学部件，运行稳定；配套 PA-View 软件可输出高精度云图数据，选配应力换算模块，适合实验室已有显微镜升级改造，用于微元件、晶圆、光学晶体的微观低应力检测。

应用场景

1. 光学元件：微型树脂透镜、微棱镜、光学镀膜元件微区低双折射检测

2. 半导体行业：TGV 玻璃通孔、晶圆微区、光学晶体、芯片封装材料微小区域应力观测

3. 高分子材料：微小注塑件、光学胶微区低成型应力评估

4. 玻璃材料：光学玻璃微缺陷、微小镜片局部低残余应力检测

5. 光纤光学：通信光纤、光纤晶体微区双折射检测

6. 科研实验室：材料微观形变、晶体局部应力分布研究；现有显微镜升级改造