产品描述

日本 Photonic Lattice（光子晶格）PA-300-MT 二维双折射评估系统，为 PA-300 系列分体式在线测量机型，测量头部与光源独立分离，探头可直接嵌入自动化产线工位集成使用。搭载自研光子晶体偏振传感技术，500 万像素高分辨率传感器，采用 520nm 单波长，专门用于低位相差样品高精度检测。整机无旋转偏振片结构，稳定性高、维护简便，单次全视场测量约 3 秒。配套 PA-View 专业分析软件，自带自动良否判定功能，支持相位差云图、线剖面、ROI 区域统计、CSV 数据导出，选配模块可直接换算残余应力 MPa，支持 API 远程对接，适配光学元件流水线在线质检。原装进口精密光学测量仪器，适合手机镜头、小型光学透镜、微型玻璃件等小件产品低应力与双折射检测。

产品规格

• 型号：PA-300-MT

• 品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）

• 机型说明：PA-300 系列分体在线式，测量头可集成自动化产线

• 测量波长：520nm（单波长，低相位差专用）

• 相位差测量范围：0~130nm

• 传感器像素：2056 × 2464（约 500 万像素）

• 标准镜头视场：约 37×44mm

• 选配变焦镜头视场：7.0×8.4mm ~ 20.0×24.0mm

• 最小分辨率：0.001nm

• 重复精度：＜1.0nm

• 测量时间：约 3s / 全视场

• 输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配数据处理模块）

• 特色功能：分体式结构，测量头轻量化，支持产线集成；软件自带良品自动判定

• 配套软件：PA-View，支持云图、剖面分析、ROI 统计、CSV 导出、远程 API

• 测量头尺寸（宽 × 深 × 高）：160 × 190 × 316 mm

• 测量头重量：约 4.0kg

• 供电：AC100～240V（50/60Hz），最大 6.0A

• 信号接口：GigE

产品总结

PA-300-MT 是日本光子晶格 PA-300 系列轻量化分体在线式二维双折射 / 残余应力成像测量系统，核心为 500 万像素高分辨率偏振传感器，专为低相位差微小工件开发。探头体积小重量轻，可直接集成到自动化流水线，无旋转光学部件，运行稳定。配套 PA-View 软件可输出高精度相位差云图并自动判定良莠，支持上位机对接，适合光学镜头、微型透明元件大批量在线低应力品质筛查。

应用场景

1. 光学镜头行业：手机塑料镜头、车载小透镜、VR 微型镜片低双折射在线检测

2. 光学元件：小型棱镜、微型光学玻璃件微小残余应力筛查

3. 树脂 / 高分子材料：小型透明注塑件、光学胶小件低成型应力评估

4. 玻璃材料：微型光学镜片、小规格盖板玻璃低应力检测

5. 自动化产线：光学元件流水线在线质检、自动良否判定、数据追溯

6. 科研实验室：小尺寸低相位差光学试样快速批量检测