产品描述

日本 Photonic Lattice（光子晶格）WPA-200-L 二维双折射评估系统，属于 WPA-200 系列大视野加长款，传感器核心与 WPA-200 一致，搭载自研光子晶体偏振传感技术，采用 523nm/543nm/575nm 三波长测量方案，解决传统单波长相位差缠绕问题，支持中大尺寸透明样品全视场二维面分布成像检测。整机无旋转偏振片结构，稳定性高、维护简单，单次全视场测量仅需 2~5 秒。配套 WPA-View 专业分析软件，支持相位差云图、线剖面、ROI 区域统计、CSV 数据导出，选配模块可直接换算残余应力 MPa，支持 API 远程对接，适用于中大尺寸工件的实验室研发与产线质检。原装进口精密光学测量仪器，用于光学薄膜、透明树脂、玻璃基板等材料的双折射与内应力检测。

产品规格

• 型号：WPA-200-L

• 品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）

• 机型说明：WPA-200 系列大载台大视野版本，适配中大尺寸样品

• 测量波长：523nm、543nm、575nm 三波长

• 相位差测量范围：0~3500nm；选配高相位差选件最高可达 10000nm

• 传感器像素：384 × 288（约 11 万像素）

• 标准镜头视场：33×44mm ~ 240×320mm（大视野）

• 选配变焦镜头：不支持变焦镜头

• 重复精度：相位差 σ＜0.1nm；光轴角度 σ＜0.1°（相位差＞10nm）

• 测量时间：2~5s / 全视场

• 输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配数据处理模块）

• 配套软件：WPA-View，支持云图、剖面分析、ROI 统计、CSV 导出、远程 API

• 整机尺寸（宽 × 深 × 高）：430 × 490 × 最大 910 mm

• 整机重量：约 23kg

• 供电：AC100～240V（50/60Hz），最大 5.0A

• 信号接口：GigE

产品总结

WPA-200-L 是日本光子晶格 WPA-200 系列大载台二维双折射 / 残余应力成像测量系统，核心光学性能和 WPA-200 基础款一致，加大样品台面与测量视野，最大可测 240×320mm 中大尺寸样品。采用三波长检测方案解决大相位差解缠难题，全视场一次成像，无旋转光学部件，设备稳定。配套专业分析软件输出相位差分布云图，选配应力换算模块，适合中大尺寸透明光学工件的品质检测与材料研究。

应用场景

1. 光学薄膜行业：中大尺寸偏光膜、相位差膜、光学 PET 薄膜相位差均匀性检测

2. 玻璃材料：中大尺寸盖板玻璃、光学镜片、钢化玻璃、蓝宝石基板残余应力检测

3. 树脂 / 高分子材料：大面积透明注塑件、树脂板材、光学胶的双折射、成型应力评估

4. 半导体与光学元件：中大尺寸水晶、光学晶体、透明基板的内部应力缺陷检测

5. 科研实验室：大面积材料光学特性研究、形变应力观测、热处理前后应力对比分析

6. 汽车光学件：车载中大尺寸透明面板、仪表透光件应力质检