日本 Photonic Lattice（光子晶格）WPA-300 二维双折射评估系统，采用自研光子晶体偏振传感技术，在保留 WPA-200 大相位差测量能力基础上，偏振图像传感器分辨率提升 5 倍，可捕捉样品表面微小相位差变化，实现全视场二维面分布成像检测。搭载三波长测量（523nm/543nm/575nm），解决传统单波长相位差缠绕问题，可直接测量大范围相位差样品。整机无旋转偏振片结构，稳定性高、维护简单，单次全视场测量仅需 2~5 秒。配套 WPA-View 专业分析软件，支持相位差云图、线剖面、ROI 区域统计、CSV 数据导出，选配模块可直接换算残余应力 MPa，支持 API 远程对接，适合实验室研发与产线质检使用。原装进口精密光学测量仪器，广泛用于光学薄膜、透明树脂、玻璃基板等材料的双折射与内应力检测。
型号：WPA-300
品牌：Photonic-Lattice（光子晶格，日本）
测量波长：523nm、543nm、575nm 三波长
相位差测量范围：0~3500nm；选配高相位差选件最高可达 10000nm
传感器像素：848 × 680（约 57 万像素，较 WPA-200 提升 5 倍）
标准镜头视场：36×45mm ~ 100×133mm
选配变焦镜头视场：12×15mm ~32×40mm（微区观测）
重复精度：相位差 σ 10nm
测量时间：2~5s / 全视场
输出参数：相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配数据处理模块）
配套软件：WPA-View，支持云图、剖面分析、ROI 统计、CSV 导出、远程 API
整机尺寸（宽 × 深 × 高）：270 × 380 × 最大 624 mm
整机重量：约 15kg
供电：AC100～240V（50/60Hz），最大 5.0A
信号接口：GigE
WPA-300 是日本光子晶格宽量程二维双折射 / 残余应力成像测量系统，三波长检测方案解决大相位差解缠难题，高分辨率偏振传感器实现样品全域应力可视化成像，测量速度快，无需旋转光学部件，设备稳定可靠。支持微区到大尺寸样品检测，配套专业分析软件，可直接输出相位差分布云图，选配应力换算模块，兼顾科研开发与工业品控，是透明光学材料双折射与残余应力检测高端仪器。
光学薄膜行业：偏光膜、相位差膜、光学 PET 薄膜相位差均匀性检测
玻璃材料：盖板玻璃、光学镜片、钢化玻璃、蓝宝石基板残余应力检测
树脂 / 高分子材料：透明注塑件、树脂透镜、光学胶的双折射、成型应力评估
半导体与光学元件：水晶、光学晶体、透明基板的内部应力缺陷检测
科研实验室：材料光学特性研究、形变应力观测、热处理前后应力对比分析
汽车光学件：车载透明面板、仪表透光件应力质检
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